AFM100 Plus / AFM100 System
AFM100 Plus / AFM100 system ee a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye
Detalji proizvoda
AFM100 Plus / AFM100 System
AFM100 Plus / AFM100 system ee a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye a ye
-
Karakteristika
Karakteristika
Sisitɛm de sonde cï tääu thɛɛr bï ya waar sonde
Automatic Measurement/Processing/Analysis
AFM-SEM-EDS observing analysis of the same field of view using AFM marking function
Data Application
Lɩzɩ tʋmɩyɛl microscope scanning probe data.
Bayan
A bɛ fɛɛrɛ wɛ̈ɛ̈r ye cɔl Scanning Tunnel Microscope (STM) ku Atomic Force Microscope (AFM).
Tarih ku SPM
A leŋ tɛ̈n bɛ̈n tɛ̈n bɛ̈n tɛ̈n bɛ̈n tɛ̈n bɛ̈n tɛ̈n bɛ̈n tɛ̈n bɛ (Global site)
Онлайн разпит